隨著科技的發(fā)展，手機更新?lián)Q代的非?？欤謾C做為人們?nèi)粘Ｉ畈豢扇鄙俚耐ㄐ殴ぞ?，在向市場上大量出售前，需要做整機可靠性測試，以全方位保障手機的品質(zhì)與人們的使用安全。那么手機整機可靠性測試需要做哪些項目呢？下面劍喬儀器小編為大家仔細講解下手機整機可靠性測試的試驗項目以及相關測試標準。

一：手機整機環(huán)境可靠性測試

由于手機是移動設備，這就決定了它隨時會面臨冬天的嚴寒與靜電，夏季的酷暑與潮濕，而高低溫環(huán)境測試就是為了避免手機產(chǎn)生嚴重失效現(xiàn)象而進行的測試。最為容易想象的就是高低溫環(huán)境測試，它會給予手機一個初始測試狀態(tài)如待機、關機或者充電，定時檢查手機在測試中的狀況。

1）高低溫環(huán)境測試

高低溫試驗是高溫試驗和低溫試驗的的簡稱，試驗目的是評價高低溫條件對裝備在存儲和工作期間的性能影響。高低溫試驗的試驗條件、試驗實施、試驗步驟在GJB 150.3A一2009《軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法高溫試驗》與GJB 150.4A—2009《軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法低溫試驗》中都有詳細的規(guī)定。

2）鹽霧測試

鹽霧箱條件： 5+1％NaCl溶液， 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°C,濕熱箱條件：＋40+2°，93+3％RH，持續(xù)時間48H。

3）ESD測試

手機在接充電器和不接充電器的情況下，分別測試手機在常用使用狀態(tài)下的ESD 性能，待機和通話狀態(tài)是必須要測試的狀態(tài)。 

接觸放電為±6KV,對裸露的金屬件（如導電裝飾圈、裝飾牌不同的位置）、水平耦合板、垂直耦合板連續(xù)放電各 10次后對地放電,要求：LCD 顯示和通話狀況應良好，應無數(shù)據(jù)丟失和功能損壞等；接觸放電每點每個測試電壓連續(xù)放電 10次(加嚴測試±20 次)。 

空氣放電±10K，對翻蓋底殼/面殼、大小LCD四周、接縫、受話器、免提接口、I/O口、主機按鍵及主機底殼等處進行放電，被選點每點每個測試電壓放電10 次(加嚴測試±20 次)，每放電一次需對地放電，要求LCD顯示和通話狀況應良好，應無數(shù)據(jù)丟失和功能損壞。 

完成后作好記錄。所需手機數(shù)為2 部。 

外置天線 ESD 測試要求：天線電鍍裝飾要求測試接觸放電±8KV，空氣放電±15KV，不允許出現(xiàn)破壞性問題（出現(xiàn)重啟或重裝電池不可恢復的問題） 

參考標準: 

GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2  1995 電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗  

YD/T 1539-2006移動通信手持機可靠性技術要求和測試方法。

4）極限溫度充電測試

5）溫升測試

二、手機整機機械類可靠性測試

這類測試大多數(shù)屬于破壞性的測試，我們可以理解成測試產(chǎn)品的一個極限狀態(tài)。簡單的說就是看看產(chǎn)品的可靠度，比如10厘米的微跌測試，對手機的正面和反面各微跌200次，手機LCD不能出現(xiàn)白點或者白斑，TP滑動功能全領域有效，如果測試通過我們認為該產(chǎn)品在這方面具備可靠度。

1）跌落測試

分定向跌落、自由跌落、重復跌落、滾筒跌落四種跌落方式。

試驗樣機插SIM 卡，并裝配電池，手機處于正常工作狀態(tài)。將樣品放置在垂直跌落試驗儀上，將高度調(diào)到 1.0m ，進行垂直跌落測試。每個面各測 2 次，共跌落12 次。跌落測試后，首先對樣品進行外觀、功能，結(jié)構(gòu)檢測，記錄測試狀態(tài)后，再進行拆機檢測。

試驗樣機插SIM 卡，并裝配電池，手機處于正常工作狀態(tài)。 將樣品放置在 0.5m 的滾筒跌落試驗機中，進行跌落測試，每 50 次對手機的外觀，功能，結(jié)構(gòu)做檢測，累計跌落300 次循環(huán)。 測試完成后，對手機進行功能，結(jié)構(gòu)，裝配檢測（要求必須拆機檢查）。

2）軟壓測試

將手機正面朝上，放置在支撐部件的中心位置上，樣品處于開機狀態(tài)并鎖住鍵盤。彈性擠壓頭以 25kg 的力、每分鐘 15～30 次的頻率擠壓樣品中間部位1000次，分別在400、600、800、1000 次進行外觀檢查和話音通信檢查，外觀、功能應正常，話音通信應能正常進行。測試結(jié)束后進行功能、外觀及裝配檢測應無異常。

3）硬壓測試

4）小球沖擊

5）水波紋測試

6）USB/耳機接口推力測試

7）正弦振動測試

    振動頻率: 10 ~ 500Hz ASD(加速度頻譜密度)：0.96m2/S3 持續(xù)時間: 每方向1小時(x,y,z三個方向)。 試驗過程中檢查手機有無掉卡、關機等不良現(xiàn)象，測試結(jié)束后功能檢查應無異常。

8）沙塵實驗

9）包裝振動

三、手機整機壽命類測試

    實際研制過程中，壽命測試一般為加速壽命測試，以便縮短測試周期，降低生產(chǎn)成本，讓產(chǎn)品在短時間內(nèi)盡可能暴露產(chǎn)品的缺陷，評估產(chǎn)品的穩(wěn)定性。

1）SIM/T卡/內(nèi)存卡接入和拔出測試

    插入SIM 卡再取出，累計1000 次。每插拔50 次開機檢查一次，手機不能有不識卡現(xiàn)象，測試完畢手機功能應正常。

    插入內(nèi)存卡再取出，累計 1000 次。不支持熱插拔的機型，每插拔 100 次開機檢查一次，支持熱插拔的機型必須在開機狀態(tài)下測試，每插拔 100 次檢查一次，要求測試后存儲卡結(jié)構(gòu)正常（不能破裂），手機無不識卡問題，內(nèi)存卡中的內(nèi)容不可丟失。

2）USBUSB/耳機接口接入和拔出測試

    將耳機垂直插入耳機孔后，再垂直拔出，如此反復，累計 3000 次。功能應正常。

插入數(shù)據(jù)線再拔下，累計3000次。每插拔100次開機檢查一次，手機功能應正常。

3）按鍵測試

    以 40~60 次/分鐘的速度，不小于 10N 的力度均勻按鍵，Dome：15 萬次以上；Switch：10 萬次；多維導航鍵：6 萬次。每2萬次檢查1次。Slide：1.5 萬次；試驗后功能應正常。

4）觸摸屏點擊測試

    將手機固定在點擊測試儀器上， 用固定在尖端的隨機手寫筆，加載 150g 的力，對觸摸屏點擊25 萬次， 每5 萬次對屏幕進行檢查并清潔；手機處于待機狀態(tài)；測試完畢后，觸摸屏表面無損傷，功能正常。點擊速率：約1 次/秒

5）觸摸屏劃線測試

    將手機固定在劃線測試儀器上， 用手機自帶的手寫筆沿觸摸屏的對角線進行劃線測試，劃線壓力為150g 力， 測試次數(shù)10 萬次 （反復來回為 2 次），每1 萬次對觸摸屏功能、結(jié)構(gòu)和外觀進行檢測，并對觸摸屏進行清潔。測試結(jié)束后，觸摸屏功能應正常，外觀無損傷（劃痕）。 （劃線速度：約30mm/秒）

6）聽筒壽命測試

    使用0.035W， PINK  20Hz-20KHz的120小時內(nèi)無異?，F(xiàn)象。

7）馬達測試

8）揚聲器測試

9）受話器測試

四、手機整機表面處理類測試

1）紙帶/羊毛氈耐磨測試

    使用多功能耐磨儀器，羊毛氈，施加 1000g 的力，在產(chǎn)品表面（有表面處理工藝）以 40 次/分鐘～60 次/分鐘的速度，以 30mm 左右的行程，在樣本表面來回磨擦，測試 2000 次(1000 個循環(huán))后 觀察外觀。

2）硬度測試

    觸摸屏硬度測試，用三菱牌 2H 鉛筆劃產(chǎn)品表面，在 45°的角度，以 500g的力度在被測殼表面劃兩筆劃刻后用橡皮擦試后檢查應無明顯劃痕。

3）噴涂百格測試

4）耐醇性測試

5）化妝品測試

6）耐壓測試

7）振動耐磨測試。

五、手機整機三防測試

    區(qū)別于傳統(tǒng)的三防“防霉菌、防潮濕、防鹽霧”，手機整機的三防測試主要為防塵、防水、防跌落震動測試。

    如防塵可靠性測試，將手機放置在粉塵試驗箱內(nèi)， 樣品體積綜合不得超過試驗箱有效空間的 1/3，底面積不得超過有效水平在積的 1/2；與實驗箱內(nèi)壁距離應不小于 100mm。啟動粉塵試驗箱，使氣流能夠?qū)⒒覊m均勻緩慢地沉降在試驗樣品上，最大值不得超過 2m/s。測試時間到后，將手機在粉塵箱內(nèi)靜置 2H，進行功能、外觀及裝配檢測。

六、 國內(nèi)手機可靠性測試方面的主要標準

1）GB/T 15844.2-1995 移動通信調(diào)頻無線電話機環(huán)境要求和試驗方法。 

2）YD/T1215  900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動一動通信網(wǎng)通用分組無限業(yè)務設備測試方法：移動臺。

3）GB/T 15844.3-1995 移動通信調(diào)頻無線電話機可靠性要求和試驗方法。 

4）YD/T 965-1998  電信終端設備的安全要求和試驗方法。 

5）YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數(shù)字900/1800MHz TDMA 數(shù)字蜂窩移動通信系統(tǒng)電磁兼容性限值和測量方法  第一部分：移動臺及其輔助設備。

對手機整機進行可靠性測試，需要對測試過程的失效現(xiàn)象進行分析，因此在測試過程中應把手機的失效現(xiàn)象準確詳細的描述出來十分重要，從而才能便于后續(xù)分析、改進設計，為提高手機可靠性、耐久性。更多詳細資料歡迎咨詢廣東劍喬【劍喬儀器】廠家 官網(wǎng)：www.meinv178.com