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德國BYK微型光澤儀;微型三角度光澤儀，單角度光澤度儀
德國BYK微型光澤儀;微型三角度光澤儀，單角度光澤度儀
新型號：4560/4561/4562/4563/4564/4565/4566/4567/4568/4569
舊型號：4440/4442/4444/4446/4448/4450/4452/4454/4456
微型三角度光澤儀在正確的角度下 -觀察產品的變化高-中-低光澤：您的應用屬于哪一種? 三角度光澤儀集 20°, 60°, 85° 三種角度于一體 - 如同單角度儀器一樣便攜。三個角度在一臺儀器上 使您能按標準迅速覺察到質量的變化。 為了清楚地得到從平光到高光的整個范圍內的光澤度差值， 標準規(guī)定了三個角度。每個角度都在對應的光澤范圍內 進行優(yōu)化測量。 所有被選擇的角度在同一個點上測量，并立即顯示測量結果 - 包括：統(tǒng)計、差值、合格/不合格結果。 以下例子在20°角下兩個樣品的讀數(shù)更能顯示出兩個樣品間 光澤的差異：
微型三角度光澤儀 μ光澤和厚度測量集于一身一個好的涂裝是使用盡可能少的涂料來達到客戶要求的質量 規(guī)格。光澤和厚度是評估涂層質量的重要參數(shù)。 微型三角度光澤儀μ可在幾秒內在同一個測量點上同時測量這 兩個參數(shù)，不僅節(jié)省時間而且在現(xiàn)場使用也十分理想 - 僅需使 用1臺儀器。 ■ 同時顯示20°, 60°, 85° – 用于高、中、低光澤涂料 ■ 磁性/非磁性兩用型探頭 – 在鋼或鋁基材上測量涂層厚度 標準光澤 厚度 ISO 2813, 7668 2178, 2360, 2808 ASTM D523 B499,D1400 DIN 67530 新型光澤儀S系列啞光表面處理不僅是新的設計趨勢，而且對于要求表面無反 射或低反射這類應用而言也是至關重要的 - 例如汽車內飾件。 通常有各種各樣的材料，從皮革到塑料，同時使用時需要和 諧一致。另外，從大顆粒到精細的條紋等各種不同的表面結 構通常呈現(xiàn)出非常低的光澤。為了確保在不同部件上一致的 視覺感受，必須規(guī)定極嚴格的允差范圍。 只有極其的測試儀器才能客觀地控制生產。新型光澤儀 S系列產品提升了60°角度下在低光澤（0-20GU）范圍內的測 量精度。通過在光澤儀生產過程中具有的校準程序，保 證了的精度。
的儀器間重復性 技術指標
微型光澤儀XS小部件用小口徑光澤儀當今，很多產品不僅是由不同的部件構成，同時要求這些部 件具有類似的表面外觀。造型優(yōu)美的設計已成為產品能否成 功的重要因素，諸如手機、電腦或者家用電器。需要將小部 件整合到大部件中并融為一體，例如框架、按???以及裝飾性 的零部件。這些產品的大小和設計使它們很難用傳統(tǒng)的光澤 儀進行評估。 微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀，測量口徑2 x 4 mm，是測 量小部件光澤的理想方案，確保使之與大部件相統(tǒng)一。 額外新增的版本是增強型微型60°光澤儀 XS-S, 其技術性能適 用于測量非常低光澤表面的產品。 特殊應用的光澤測量特殊的材料要求特殊的測量角度：陶瓷材料，塑料薄膜和硬質塑料，紙張和硬紙板不僅可用20°, 60°, 85°常規(guī)角度進行測量，也可按照行業(yè)標準選擇45° 或 75°。 微型光澤儀 45°對于中低光澤產品，塑料薄膜和硬質塑料，不論透明還是不 透明材質，通常都用45°角來測量。對于透光的薄膜，請用型 號為5015的黑色耐擦洗實驗板作為啞光黑色背景（174頁）墊 于樣品背后。如果沒有合適的背景板，測量會發(fā)生錯誤。 標準的測量方法要求每個樣品至少測量三個點，以獲取光澤 微型光澤儀45°：特別應用在陶瓷、塑料和薄膜的光澤測量 均質性指征。微型光澤儀統(tǒng)計測量模式，可顯示平均值和差 值范圍或者顯示測量樣品的均質性的標準偏差值。 陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀，通過測量失光率可以 對比這些材料的耐酸性，耐堿性或者其他環(huán)境因素的影響。 為了評估光澤的變化有必要多次測量整個樣品表面并取平均 值，確保得到有代表性的結果。 標準 ASTM C346, D2457 JIS Z8741 技術指標
特殊應用的光澤測量 |
角度 | 應用 | 測量范圍 |
75° | 紙張、聚乙烯 | 0 - 140 GU
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訂購信息 | 技術指標 | |||||
新型號 | 舊型號 | 名稱 | 角度 | 應用 | 測量面積 | |
4560 | 4440 | 微型光澤儀 20° | 20° | 高光澤 | 10 x 10 mm (0.4 x 0.4 in) | |
4561 | 4442 | 微型光澤儀 60° | 60° | 中光澤 | 9 x 15 mm (0.35 x 0.6 in) | |
4562 | 4444 | 微型光澤儀 85° | 85° | 低光澤 | 5 x 38 mm (0.2 x 1.5 in) | |
4563 | 4446 | 微型三角度光澤儀 | 20°, 60°, 85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
4564 | 4448 | 微型三角度光澤儀μ | 20°, 60°, 85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
4565 | 4450 | 微型光澤儀 60°S | 60° | 中光澤 | 9 x 15 mm (0.35 x 0.6 in) | |
4566 | 4452 | 微型三角度光澤儀S | 20°, 60°, 85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
4567 | 4454 | 微型光澤儀 45° | 45° | 陶瓷、塑料、薄膜 | 9 x 13 mm (0.35 x 0.5 in) | |
4568 | 4456 | 微型光澤儀 75° | 75° | 紙張、聚乙烯 | 7 x 24 mm (0.3 x 0.95 in) | |
4569 | ---- | 微型光澤儀 60°XS | 60° | 中光澤 | 2 x 4 mm (0.08 x 0.16 in) | |
4570 | ---- | 微型光澤儀 60° XS-S | 60° | 中光澤 | 2 x 4 mm (0.08 x 0.16 in) | |
基本配置： 主機；帶校準板的底座；可追溯的證書； USB線纜，電池；操作手冊；電池；攜帶箱 可供下載的軟件: smart-lab Gloss 或 smart-process Gloss 含2個許可證 注意：軟件下載后所有的軟件包可以免費試用30天。之后，用戶 需決定并注冊其中一個軟件包。 延長質保服務：請參見技術服務章節(jié) 系統(tǒng)要求： 操作系統(tǒng)： Windows® SP1 或 8.1 8.1Microsoft® . NET Framework 硬件：Core 2 Duo, 2.2 GHz, i7 或相當 內存：4 GB RAM, 8 GB 建議 硬盤：zui少300MB 顯示器：1280 x 1024 或更高 接口：USB端口 | 測量范圍¹ | 0 - 100 GU | 100 - 2000 GU | |||
重復性² | ± 0.2 GU | ± 0.2 % | ||||
重現(xiàn)性² | ± 0.5 GU | ± 0.5 % | ||||
光譜敏感度 | 用于CIE-C光源的觀察器，符合CIE1931標準 | |||||
測量時間 | 0.5 秒 / 角度 | |||||
厚度 |
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底材 | Fe: 磁性 NFe: 非磁性 | |||||
測量范圍 | 0 - 500 μm (0 - 20 mils) | |||||
精度 | ± (1.5 μm +2% 測量值) | |||||
存儲 | 999個讀數(shù)帶日期和時間 | |||||
接口 | USB | |||||
電源 | 1節(jié)1.5V AA堿性電池 測量4000個讀數(shù)或者通過USB端口 | |||||
尺寸 | 155 x 73 x 48 mm (6.1 x 2.9 x 1.9 in) | |||||
重量 | 0.4 kg (0.9 lbs) | |||||
操作溫度 | 15 - 40 °C (60 - 104 °F) | |||||
相對濕度 | 高達85%，無凝露 | |||||
¹ 45°和75°度光澤儀見第前頁
²S型光澤儀見第前頁
鄭由軍
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